제조 공정은 고객이 지정한 허용 오차 범위 내에서 제품을 생산하도록 설계되었습니다. Cp 값이라고하는 색인은 이러한 요구 사항을 충족하는 프로세스 기능을 측정합니다. 고객이 지정한 허용 한도 내에서 제품을 제조 할 수있는 프로세스의 능력을 Cpk 값이라고합니다.
Cp 비율을 계산하는 방법
제조 프로세스의 프로세스 기능은 제품의 설계 사양을 충족시킬 수있는 능력입니다. 사양에는 목표 값 또는 공칭 값과 공칭 값 위아래의 공차가 있습니다.
예를 들어 물병 제조를 고려하십시오. 목표 크기는 25 온스입니다. 사양에 따르면 제조 공정에서 30 온스의 상한선부터 20 온스의 하한선까지의 크기의 병을 생산해야합니다.
실제 제조 데이터는이 공정이 32 온스에서 18 온스에 이르는 병을 생산하고 있음을 보여줍니다. 이 생산 규모의 범위는 여섯 편차 또는 6 시그마가 확산되고 정상적인 종 모양의 통계적 분포를 나타냅니다.
이 제조 프로세스는 생산량의 일부가 상한 및 하한 제한을 벗어나기 때문에 설계 사양을 충족시킬 수 없습니다.
수학적으로이 결론은 다음과 같이 계산됩니다.
Cp = 디자인 명세 폭 / 6 개의 편차 거리 = (30 온스 -20 온스) / (32 온스 -18 온스) = 10/14 = 0.71
하나보다 작은 Cp는 제조 공정이 설계 규격을 충족시킬 수 없다는 것을 나타낸다.
참고: 대부분의 제조 표준은이 수치가 99.73 %의 생산을 나타 내기 때문에 6 시그마 표준 편차 스프레드를 사용합니다.
Cpk 계산 공식
Cp 지수는 프로세스 능력을 분석하기에 충분하지 않습니다. 공칭 생산 출력 값이 상한 또는 하한으로 이동하고 생산량 중 일부가 설계 사양을 벗어나는 경우 어떻게됩니까? Cpk 계산이 필요한 시점입니다.
Cpk 공식은 목표 출력의 이동에서 계산의 최소 결과를 취합니다. Cpk 방정식은 다음과 같습니다.
Cpk = 최소 ((상위 사양 한계 - 공칭 값) / 3 시그마 스프레드 또는 (공칭 값 - 낮은 사양 한계) / 3 시그마 스프레드))
물병의 위의 예를 사용하여 평균이 27 온스로 오른쪽으로 이동한다고 가정합니다. Cpk에 대한 계산은 다음과 같습니다.
Cpk = 최소 ((30-27) / 7 또는 (27-20) / 7) = 최소 3/7 또는 7/7 = 0.43 또는 1
이 경우 Cpk 계산은 0.43보다 작습니다. 이 값은 1보다 작으므로 생산의 상당 부분이 상위 사양을 벗어나 결함이있는 것으로 간주되기 때문에이 프로세스는 허용되지 않습니다.
Cpk 가치의 해석
Cp가 Cpk와 같으면 프로세스는 경계 조건에서 작동합니다. 생산 능력은 6 시그마 표준의 설계 사양에 정확하게 속하며 수용 가능합니다.
Cpk가 0보다 작 으면 프로세스 평균이 사양 제한 중 하나를 초과했습니다.
Cpk가 0보다 크지 만 1보다 작 으면 프로세스 평균은 사양 한계 내에 있지만 생산 출력의 일부는 사양 한계를 벗어납니다.
Cpk가 1보다 큰 경우 공정 평균은 완벽하게 중심에 있고 규격 한계 내에 있습니다.
일반적으로 Cp와 Cpk 값이 높을수록 시그마 레벨이 높아집니다. 1.33보다 큰 Cpk는 양호한 것으로 간주되어 Sigma 레벨 4를 나타냅니다. 그러나 3보다 큰 Cp 또는 Cpk는 사양 한계가 매우 느슨하고 엄격해야 함을 나타냅니다.
Cp 비율과 Cpk 지수는 제조 공정의 성능을 평가할 때 사용하는 중요한 측정 기준입니다. 생산 공정의 통계적 샘플링 및 지속적인 모니터링은 고객의 요구에 부합하는 제품을 지속적으로 생산하는 데 필수적입니다.
